熱電堆紅外探測器
- 產品型號：
- 更新時間：2024-04-19
- 產品介紹：熱電堆紅外探測器 每個熱電堆探測器的基座由所謂的熱電偶形成。 由于兩種不同金屬（塞貝克效應）的熱擴散電流，它會產生一個電壓。
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產品介紹
| 品牌 | Micro-Hybrid | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,電子,航天,綜合 |
熱電堆紅外探測器
每個熱電堆探測器的基座由所謂的熱電偶形成。 由于兩種不同金屬（塞貝克效應）的熱擴散電流，它會產生一個電壓。
應用:
遠距離溫度測試
“應用是由客戶設備的設計來定義的。我們的產品組合提供準時和整體測量的產品。"
（Micro-Hybrid有限公司研發部主管Steffen Biermann）
工藝和產品溫度是制造工藝的重要物理指標。 監測溫度確保生產線的高質量水平。 遠程溫度測量非常適用于大距離，移動部件或適用于各種工業領域的高溫應用。
優點：
響應時間短
無反應測量，對測量對象無影響
沒有破壞
連續實時監控溫度臨界時間
熱電堆紅外探測器
我們在-20°C190°C的外殼溫度范圍內提供不同測量要求的傳感器類型。 我們的探測器適用于高溫測量的大多數應用領域。
應用 | 產品 |
準時的溫度測量 | TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1 |
積分溫度測量 | TS1 × 200B-A-D3.55-1-Kr-A1 |
高溫環境下的溫度測量 | TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1-190 |
NDIR紅外氣體分析
Micro-Hybrid提供NDIR氣體分析的完整產品系列。 即使是惡劣的環境也不會阻礙我們的客戶升級自己的應用。
優點：
快速，可重復，長期穩定地測定各種紅外活性氣體的濃度
高精度和高分辨率的限制
在低漂移下的使用壽命長，無化學反應
高溫能力（190°C）
測量穩定性高，即使在惡劣的環境下
NDIR氣體分析方案
確保和監測過程穩定性的氣體濃度的測量，在涉及氣體的所有工業過程中是關重要的。 氣體濃度的準確和可再現的檢測是應用的重要組成部分，特別是在醫療和環境技術中。 此外，NDIR（非分散紅外）氣體分析可以在私人或工業領域進行寬帶或高度選擇性的有害物質檢測，例如監測和檢測爆炸性氣體和污染物。
它是測量這種氣體濃度的光學分析工具。 關于與紅外活性氣體的光學相互作用，NDIR分析是一個快速而有效的過程。
NDIR氣體測量的應用領域：
根據不同的功能原理和我們的元件組合，我們會結合適合您的測量任務對應氣體傳感器解決方案。 您可以從我們的產品查找器中訂購單個產品樣品或直接的NDIR氣體分析專家。
氣體傳感器
CO2 氣體傳感器 | 甲烷氣體傳感器 |
耐190°C高溫 | 耐190°C高溫 |
紅外光源
JSIR 350-4 | JSIR 350-5 | JSIR 450 |
高頻率 | 超高頻率的 | "超高的輻射強度 |
熱電堆探測器
TS 80 | TS 200 |
高溫應用 | 高靈敏度手持設備 |
熱釋電探測器
電流模式 | 電壓模式 |
*的靈敏度 | 電壓模式低頻率 |
特征：
使用BiSb / Sb等佳材料獲得良好的熱電堆效應：
世界上棒的探測靈敏度*
靈敏度高達295 V / W
Micro-Hybrid相關產品使用，其*性高于其他紅外光源探測器產品組合
*高7.2 x 108 cm Hz1 / 2 / W
結構概況
用于高溫應用的熱電堆探測器
在高溫環境下對機器和過程進行溫度監測是一個的挑戰。 我們的高溫熱電堆探測器*符合各種工業應用中的高溫等特殊要求。
特征：
應用環境溫度可高達190°C
焊接濾波片（可選）
高靈敏度
耐高濕
適合化學分析過程
抵御侵蝕性氣體如甲烷，二氧化硫等
用于不同的溫度范圍和測量任務的熱釋電傳感器可以在這里找到：
信號作為測量對象溫度的函數
測量物體溫度變化時的信號II
通過改變環境溫度來修改信號
修改
我們的熱電堆傳感器可以在我們廣泛的可應用范圍內進行調節：傳感器芯片，紅外濾波片等。 通過這種方式，可以在各種應用條件下始終獲得佳的測量結果。
產品選擇
TS1x200B-A-D3.55
單通道熱電堆探測器
基于MEMS技術的用于NDIR氣體分析的高敏感熱電堆探測器。
靈敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz?/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm2]: | 3.55 dia |
工作溫度[°C] | -20 … +70 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | NDIR氣體分析 |
通道數 | 1 |
TS1x200B-B-D2.4
單通道熱電堆探測器
基于MEMS技術的用于NDIR氣體分析的高度敏感的熱電堆探測器。
靈敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz?/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm2]: | 2.4 dia |
工作溫度[°C] | -20 … +70 |
封裝模式 | TO46 |
應用 | NDIR氣體分析 |
通道數 | 1 |
TS1x80B-A-D0.48
單通道熱電堆探測器
基于MEMS技術的擁有較小有效區域的熱電堆探測器;推薦用于使用帶通濾波器的溫度測量。
靈敏度[V / W] | 295 |
D* [cmHz?/W] | 7.2x10^8 |
光圈[mm2]: | 0.48 dia |
工作溫度[°C] | -20 … +85 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | 溫度測量 |
通道數 | 1 |
TS1x80B-A-D0.75
單通道熱電堆探測器
基于MEMS技術的具有較小有效區域的熱電堆探測器;推薦用于帶有帶通濾波器(8-14µm)的溫度測量。
靈敏度[V / W] | 295 |
D* [cmHz?/W] | 7.2x10^8 |
光圈[mm2]: | 0.75 dia |
工作溫度[°C] | -20 … +85 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | 溫度測量 |
通道數 | 1 |
TS1x80B-A-D0.75-…-180
單通道熱電堆探測器
基于MEMS技術的具有較小有效區域的熱電堆探測器; 推薦用于在高溫環境下使用帶通濾波器（8-14 Lm）進行溫度測量。
靈敏度[V / W] | 295 |
熱電堆探測器 | D* [cmHz?/W] |
D* [cmHz?/W] | 7.2x10^8 |
熱電堆探測器 | 光圈[mm2]: |
光圈[mm2]: | 0.75 dia |
熱電堆探測器 | 工作溫度[°C] |
工作溫度[°C] | -20 … +180 |
封裝模式 | TO39 |
熱電堆探測器 | 應用 |
應用 | 溫度測量 |
熱電堆探測器 | 通道數 |
通道數 | 1 |
TS2x200B-A-S1.5
雙通道熱電堆探測器
用于NDIR氣體分析的基于MEMS技術的帶有窄帶濾光片的高靈敏度熱電堆雙探測器。
靈敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz?/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm2]: | 1.5 x 1.5 |
工作溫度[°C] | -20 … +70 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | NDIR氣體分析 |
通道數 | 2 |
TS4x200B-A-S1.5
四通道熱電堆探測器
用于NDIR氣體分析的基于MEMS技術的帶有窄帶濾波器的四通道熱電堆探測器。
靈敏度[V / W] | 100 |
D* [cmHz?/W] | 3.6x10^8 |
光圈[mm2]: | 1.5 x 1.5 |
工作溫度[°C] | -20 … +70 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | NDIR氣體分析 |
通道數 | 4 |
TS4xQ200B-A-S1.5
四通道熱電堆探測器
基于薄膜技術的高靈敏度四通道熱電堆檢測器，帶窄帶過濾器，用于氣體分析。
通過“單芯片"解決方案對接電氣和物理通道參數。
靈敏度[V / W] | 80 |
D* [cmHz?/W] | 2.95x10^8 |
光圈[mm2]: | 1.5 x 1.5 |
工作溫度[°C] | -20 … +70 |
封裝模式 | TO39 |
應用 | NDIR氣體分析 |
通道數 | 4 |
